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| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 应用领域 | 综合 |
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蔡司GeminiSEM 460
FE-SEM满足亚纳米成像、分析和样品灵活性的高要求
蔡司GeminiSEM可助您轻松实现亚纳米级分辨率的成像。出色的成像和分析技术更使FE-SEM（场发射扫描电子显微镜）如虎添翼。我们采用创新的电子光学系统和全新样品仓设计，不仅操作更加简便，用途更加灵活多样，还可为您带来更高的图像质量。无需水浸物镜即可拍摄低于1 kV的亚纳米级图像。探索蔡司Gemini电子光学系统的三种设计：
l分析测试平台的理想选择——蔡司GeminiSEM 360
l实现高效分析——蔡司GeminiSEM 460
l表面成像的新标准——蔡司GeminiSEM 560
GeminisEM 460（场发射扫描电子显微镜）专为应对要求严苛的分析任务设计，可实现高效分析和自动化的工作流程。在面对显微镜领域充满挑战的分析任务时，其Gemini 2镜筒能够助您一臂之力，成像与分析条件可无缝切换。
✔兼顾高分辨率和高电流
✔定制自动化工作流
✔为您带来更多可能性
兼顾高分辨率和高电流
✔ GeminiSEM 460专为应对要求严苛的分析任务设计，可实现高效分析和自动化的工作流程。
✔ 快速执行高分辨率成像和分析：使用Gemini 2镜筒，从低束流-低电压工作条件无缝切换到高束流-高电压工作条件（或反之）。
✔ 同时，可使用多个探测器对任意样品进行多方位表征。
✔ 利用多功能样品仓进行高效分析，还可选择合适的分析探测器。
✔ 在全新的VP模式下，调高电流，获得计数率达4000点/秒的EBSD成像。
✔ 通过两个几何对称的EDS端口和共面式EDS/EBSD配置，可以检测化学组分和晶体取向，实现高速、无阴影的EDS/EBSD成像。
定制自动化工作流
✔ 由于拥有如此强大的分析能力，工作流程的自动化便显得至关重要。使用蔡司的Python脚本API，可创建并配置属于您的自动化实验流程。
✔ 根据您的个性化需求修改实验流程并量身定制想要的效果。
✔ 充分利用STEM断层扫描成像功能：将自动倾斜和旋转功能与特征跟踪功能有效结合，在将所有对齐的图像发送至专属三维重构软件后，可构建具有纳米级分辨率的三维断层成像。
✔ 若需要测试材料承受极限，蔡司会为您提供执行自动化原位加热和拉伸实验的实验平台，在实验过程中，可自动为您呈现材料在加热和拉伸下的情况，并实时绘制应力应变曲线。
为您带来更多可能性
✔ 以Gemini 2镜筒的设计为基础，在用于材料和生命科学领域时，超高可调电流密度条件下的分析能力显著提升，即使在低电压条件下亦是如此。
✔ 您可充分利用各种配件来升级系统。例如，不仅可以加入分析设备，还可使用原位实验设备、冷冻成像和纳米探针设备对多功能样品仓进行配置。存储器可让您连接到实验室中不同设备采集的数据，从而能够集中管理项目。
✔ 在使用设备期间，可随时轻松装配和升级各种配置。
✔ 所有GeminiSEM均加入了蔡司ZEN core生态系统，通过这项功能，您可访问ZEN Connect、ZEN Intellesis及ZEN的分析模块，帮助您生成报告和实现GxP工作流程。
充分利用快速分析
任何样品的全面表征都需要高性能的成像和分析，另外，如今的用户都希望设备易于设置和操作。Gemini 2光学系统能满足这些需求。
高分辨率成像与分析可无缝切换
● GeminiSEM 460配备具有双聚光镜的Gemini 2光学系统。
● 连续调整电子束的电流强度，同时优化束斑大小。
● 可在低束流的高分辨率成像与高束流的分析模式之间进行无缝切换。
● 在更改成像参数后无需进行校准，省时省力。
保持灵活，高效工作
✔ 保持灵活：使用高电子束能量密度在低束流和高束流下进行高分辨率成像和分析，不受您选择的电子束能量影响。
✔ 样品不会暴露于磁场中：实现了大观察视野内的无失真EBSD图案和高分辨率成像。
✔ 样品倾斜转动时不影响电子光学系统的性能，磁性样品也能轻松成像。
✔ 选择适合样品的消荷电模式：局部电荷补偿、腔室内可变压力或NanoVP。
三维STEM断层扫描成像
现在，您可随心在FE-SEM上进行自动STEM断层扫描成像。一个使用API、用于自动采集STEM倾斜系列的脚本可执行优中心的旋转、载物台倾斜移动，以及自动聚焦和图像采集。此外，特征跟踪可补偿整个倾斜系列的偏移，并将两个图像之间的漂移保持在最小值约50 nm。STEM样品载具允许载物台倾斜60°、旋转180°，aSTEM探测器可涵盖所有需求。最后，来自高级重构工具包（ART）开发团队的三维重构软件利用该输出渲染出您样品的三维模型。
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