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产品型号
WAFER/DISK ANALYZER 3650 -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2026-08-05 -
浏览次数
53
产品描述
理学薄膜X射线荧光光谱仪 WAFER/DISK ANALYZER 3650，适用于晶圆、磁盘及半导体薄膜的膜厚、成分和元素浓度分析。设备支持最多20种元素同时分析，配备自动校准、五档测量孔径及XYθ样品台，可满足半导体工艺监控与薄膜质量控制需求。
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WAFER/DISK ANALYZER 3650厂商性质
代理商更新时间
2026-08-05浏览次数
53产品描述
理学薄膜X射线荧光光谱仪 WAFER/DISK ANALYZER 3650，适用于晶圆、磁盘及半导体薄膜的膜厚、成分和元素浓度分析。设备支持最多20种元素同时分析，配备自动校准、五档测量孔径及XYθ样品台，可满足半导体工艺监控与薄膜质量控制需求。
产品型号
F-380型厂商性质
代理商更新时间
2025-04-24浏览次数
773产品描述
F-380型荧光分光光度计是研究型分子荧光产品，具备高速三维扫描和磷光测试功能。该仪器采用国外供应商的核心部件，性能稳定且功能*，广泛应用于食品安全检测、材料研究和环境监测等领域。其光学系统、斩波系统和高灵敏度设计，使得信噪比超过250:1(P-P)，扫描速度高达30000nm/min，能够满足高分辨及超微量样品的测试需求。此外，它还具备双背景扣除、丰富的荧光附件