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产品型号
TXRF 3760 -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2026-08-05 -
浏览次数
159
产品描述
理学全反射X射线荧光光谱仪 TXRF 3760，主要用于200 mm及以下晶圆表面的痕量金属污染检测、全片污染分布分析及半导体工艺洁净度监控。仪器采用高功率旋转阳极X射线源、无液氮SDD探测器、三晶体自动切换机构和XYθ样品台，可分析Na至U元素，适用于硅、SiC、GaN、蓝宝石及薄膜晶圆等样品。
产品分类
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TXRF 3760厂商性质
代理商更新时间
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理学全反射X射线荧光光谱仪 TXRF 3760，主要用于200 mm及以下晶圆表面的痕量金属污染检测、全片污染分布分析及半导体工艺洁净度监控。仪器采用高功率旋转阳极X射线源、无液氮SDD探测器、三晶体自动切换机构和XYθ样品台，可分析Na至U元素，适用于硅、SiC、GaN、蓝宝石及薄膜晶圆等样品。
产品型号
ARL QUANT'X厂商性质
代理商更新时间
2025-10-30浏览次数
600产品描述
能量色散型X射线荧光光谱仪 提高元素分析的质量标准 大气颗粒物分析 • 金属、贵金属、合金 • 调查取证 • RoHS 和 WEEE 筛选石油 • 各种油品、过滤介质、添加剂和发动机磨损金属分析 • 食品安全 • 水泥、陶瓷、化肥 • 原料和替代燃料 • 冶金、矿渣及矿石 • 考古和文物修复、宝石学、金属饰品 • 聚合物、催化剂、半导体和磁性介质材料 • 工业镀层及晶圆材料镀层测量。