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  • AX8300Si半导体微聚焦X射线检测设备
    AX8300Si半导体微聚焦X射线检测设备

    产品型号

    AX8300Si

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2025-07-18

    浏览次数

    91

    产品描述

    半导体微聚焦X射线检测设备专为半导体封装与电子元器件设计的高精度无损检测设备,采用微米级聚焦X射线技术,实现芯片内部结构的二维/三维可视化检测,满足半导体行业对缺陷分析的严苛要求。
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