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| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 应用领域 | 综合 |
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发射扫描电子显微镜
拥有高品质成像和高级显微分析功能的FE-SEM
蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，可轻松实现成像和分析程序，提高工作效率。 您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或用于生物和地质样品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低电压，在1 kV或更低电压下获得更佳的分辨率和衬度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。
·Sigma 360是一款直观的成像和分析FE-SEM，是分析测试平台的理想之选。
·Sigma 560采用先进的EDS几何学设计，可提供高通量分析，实现自动原位实验。
Gemini 1的光学系统
Gemini 1的光学系统由三个元件组成：物镜、电子束推进器和具有Inlens探测原理的探测器。其中，物镜的设计将静电场与磁场的作用力相结合，大大优化光学性能的同时，降低了样品所处的场影响。如此也可实现对磁性材料等具有挑战性的样品的高品质成像。Inlens探测原理通过对二次电子（SE）和/或背散射电子（BSE）的探测来确保高效的信号检测，同时大幅缩短获取图像的时间。电子束推进器保证了小尺寸的电子束斑和高信噪比。
灵活探测
Sigma配备了一系列不同的探测器，通过新探测技术对您的样品进行表征。使用ETSE和Inlens探测器的高真空模式可获取表面形貌的高分辨率信息。使用VPSE或C2D探测器的可变压力模式可获得清晰图像。使用aSTEM探测器可进行高分辨率透射电子成像。 采用不同的可选BSE探测器（如aBSD探测器）可以深入研究样品的成分和表面形貌。
NanoVP lite模式
采用NanoVP lite模式进行分析和成像，在低电压条件下可获得更高的图像质量，更快速地获取更准确的分析数据。
·在NanoVP lite模式下，裙边效应降低且入射束流的路径长度（BGPL）减小。裙边减小会提高SE和BSE成像的信噪比。
·带有五段圆弧的伸缩式aBSD可提供出色的材料成分衬度：在NanoVP lite工作过程中，该探测器配备了安装在极靴下方的束流套管，其可提供高通量及低电压的成分和表面形貌高衬度成像，适用于可变压力和高真空条件。
扫描电子显微镜
材料科学
探索聚合物、纤维、二硫化钼等材料样品的图像。
生命科学
了解更多有关原生动物或真菌的微观和纳米结构信息，获取切面样品或薄片上的超微结构。
地球科学与自然资源
探索岩石、矿石和金属。
工业应用
了解如何对金属、合金和粉末进行研究。
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