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2025-03-18 -
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UL-2000 超微量紫外可见分光光度计利用分光光度法对物质进行定量定性分析的仪器，常用于核酸，蛋白定量以及细菌生长浓度的定量。
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产品型号
ZSX Primus 400厂商性质
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2026-08-05浏览次数
200产品描述
理学顺序式波长色散X射线荧光光谱仪 ZSX Primus 400，可对Be至U元素进行快速、无损的定性、定量和半定量分析。仪器可容纳直径400 mm、高50 mm、重量30 kg以内的大型或异形样品，支持最小500 μm微区分析、100 μm步进元素面扫描，适用于矿石、金属、晶圆、磁盘、薄膜、涂层、线路板及地质材料分析。
产品型号
TXRF 3760厂商性质
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2026-08-05浏览次数
182产品描述
理学全反射X射线荧光光谱仪 TXRF 3760，主要用于200 mm及以下晶圆表面的痕量金属污染检测、全片污染分布分析及半导体工艺洁净度监控。仪器采用高功率旋转阳极X射线源、无液氮SDD探测器、三晶体自动切换机构和XYθ样品台，可分析Na至U元素，适用于硅、SiC、GaN、蓝宝石及薄膜晶圆等样品。
产品型号
WAFER/DISK ANALYZER 3650厂商性质
代理商更新时间
2026-08-05浏览次数
150产品描述
理学薄膜X射线荧光光谱仪 WAFER/DISK ANALYZER 3650，适用于晶圆、磁盘及半导体薄膜的膜厚、成分和元素浓度分析。设备支持最多20种元素同时分析，配备自动校准、五档测量孔径及XYθ样品台，可满足半导体工艺监控与薄膜质量控制需求。
产品型号
海克斯康 AT500厂商性质
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2026-08-04浏览次数
247产品描述
AT500 Leica绝对激光跟踪仪满足IP54防护等级要求，工作温度范围可达-15至+50°C，从户外到车间现场，随时都可进行测量。借助全合一的集成设计，作为第一套采用内置控制器的绝对激光跟踪仪，AT500实现了新的的便携性。