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| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 应用领域 | 综合 |
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蔡司GeminiSEM 360
FE-SEM满足亚纳米成像、分析和样品灵活性的高要求
蔡司GeminiSEM可助您轻松实现亚纳米级分辨率的成像。出色的成像和分析技术更使FE-SEM（场发射扫描电子显微镜）如虎添翼。我们采用创新的电子光学系统和全新样品仓设计，不仅操作更加简便，用途更加灵活多样，还可为您带来更高的图像质量。无需水浸物镜即可拍摄低于1 kV的亚纳米级图像。探索蔡司Gemini电子光学系统的三种设计：
l分析测试平台的理想选择——蔡司GeminiSEM 360
l实现高效分析——蔡司GeminiSEM 460
l表面成像的新标准——蔡司GeminiSEM 560
GeminiSEM 360（场发射扫描电子显微镜）是用于您分析测试平台的理想设备，为材料和生命科学、工业领域提供了有益的功能性。凭借其Gemini1电子光学镜筒，GeminiSEM 360可为各种应用和样品类型提供高分辨率成像及分析。
✔ 高样品灵活性
✔ 出色的用户体验
✔ 杰出的拓展能力
高样品灵活性
✔ GeminiSEM 360是用于分析测试平台的理想设备，为材料和生命科学、工业领域提供了有益的功能性。
✔ 同名的Gemini 1电子光学设计提供表面灵敏的高分辨率图像，即使在低电压条件下仍具有出色的分辨率，并在高探针电流条件下提供快速成像。
✔ Inlens二次电子成像和背散射电子成像可同时收集高分辨率的表面形貌和复合成分衬度信息（对电子束敏感样品亦是如此）。
✔ 在低真空条件（即可变压力）下对绝缘样品进行成像时，无需牺牲Inlens衬度：NanoVP保证了出众功能，确保在不受荷电影响的情况下进行Inlens成像。
出色的用户体验
✔ GeminiSEM 360带来良好的用户体验：凭借其宽阔的观察视野和高度个性化的全新样品仓，即使在面对超大型样品时也能轻松检测。
✔ 通过蔡司ZEN Connect实现的关联式成像和关联显微技术，让您畅享无缝导航。
✔ 使用自动功能（如自动聚焦功能和智能探测器），轻松获得清晰图像。
✔ 几何对称设计的EDS端口和共面式EDS/EBSD几何结构，让您在执行高效成像和分析工作流程时更加游刃有余。
✔ 蔡司Predictive Service（预防性维护）可让您充分利用系统运行时间，尽享随时进行定期维护的优势。
杰出的拓展能力
✔ 系统可不断升级是保障您的投资的前提条件。因此，GeminiSEM 360也是蔡司ZEN core软件生态系统中的一员，让您能够畅享系统升级的便利。
✔ ZEN Connect可结合多模态和多尺度数据，ZEN Intellesis用于高级人工智能所支持的图像分割，ZEN的分析模块用于报告和分析分割的数据，ZEN数据存储让您可以通过连接实验室中不同设备采集的数据来集中管理项目。
✔ 作为APEER社区的成员，您可访问其他用户创建的工作流和脚本，从而远程帮助您解决难题。
✔ 由于提供明确的升级路径，系统可随新功能的发布得到进一步提升。
基本原理简介
FE-SEM专为高分辨率成像设计，性能的一个关键是其电子光学镜筒。Gemini是为实现任何样品的出色分辨率而特别设计的（尤其在低加速电压下），可实现完整高效的探测，且操作简单。
Gemini电子光学系统有以下三个主要特征：
● Gemini物镜的设计结合了静电场与电磁场，在大幅提升光学性能的同时大大降低了对样品的影响。如此也可实现对磁性材料等具有挑战性的样品的高品质成像。
● Gemini电子束推进器技术是一种集成光束减速器，确保了小尺寸的电子束斑和高信噪比。
● Gemini Inlens的探测设计原理通过同时探测二次电子（SE）和背散射电子（BSE），大幅缩短到图像的时间，确保了高效的信号探测。
针对您的应用，可以有以下优势：
✔ SEM电子束对准可长期保持稳定，改变探针电流和加速电压对系统几乎没有影响。
✔ 几乎无磁场泄露的光学系统可实现无失真高分辨率成像。
✔ 使用Inlens SE探测器，可通过真正的表面敏感性SE 1电子技术生成图像，从而只获得样品最顶层的信息。
✔ 使用Inlens EsB探测器的探测设计理念，在非常低的电压下获得真实的材料成分衬度。
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