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品牌 | Bruker/布鲁克 | 仪器类型 | 实验室型 |
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价格区间 | 面议 | 仪器种类 | 激光红外 |
应用领域 | 综合 |
VERTEX NEO R
是一款优异的科研工具,凭借先进的功能,成为各种应用的理想选择。其高度的灵活性和适配性既支持大型中心实验室,也支持定制化的实验装置,因此即便是要求苛刻的研究环境,也能充分发挥价值。
VERTEX NEO R是聚合物和化学研究领域的强大工具:可使用Bruker FM技术,在远红外区域识别聚合物复合材料中的无机填料;支持聚合物的动态研究,以及通过TGA-FT-IR分析挥发性化合物和分解过程;借助中红外光纤探头,FTIR可实现实时反应监测与控制;识别无机矿物和颜料,对复杂化学系统进行全面的分析。
FT-IR技术在为可持续能源解决方案提供新材料的多光谱范围表征,助力绿色技术创新。它能够在电池研究中监测电极和其他电池材料的效率和降解情况,同时还可表征利用被动辐射冷却(PRC)和热辐射技术材料的发射特性。
此外,高分辨率气相光谱技术与热重分析(TG)相结合,有助于详细分析材料的分解过程,适用于先进的环境和能源应用。
FT-IR 技术在催化反应研究中发挥着至关重要的作用,能够实现实时、毫秒级的光谱分析,显著增强反应监测能力。反应池中的原位漫反射(DRIFTS )测量能够深入解析催化反应的动力学,为催化研究和应用提供全面的分析。此外,借助真空兼容实验装置,FT-IR能够通过TG-FT-IR测定挥发性化合物,并表征分解过程。
FT-IR技术可用于晶体和膜层的高分辨分析,从而深入表征半导体材料。它使用中红外(MIR)和近红外(NIR)光致发光解决方案,揭示半导体材料的电子结构,为材料开发提供关键见解。此外,FT-IR技术用于硅晶圆中的氧和碳含量测定,确保半导体制造中的精确质量控制。
在固体物理研究中,FT-IR技术能够对晶体和涂层进行高分辨分析,提供丰富的结构信息。它还使用MIR和NIR光致发光解决方案揭示半导体材料的电子结构,加深对材料微观层面特性和行为的理解。布鲁克还提供广泛的低温恒温器集成方案。
FT-IR技术仅通过VERTEX NEO R搭载的真空ATR技术即可对生物样品进行无损真空分析,为低浓度化合物检测提供出色的灵敏度。它能够详细研究水环境中的蛋白质(CONFOCHECK),并测定分子的绝对构型(VCD)。此外,借助TG-FT-IR亦可表征医疗药品的稳定性和挥发性成分,同时还可通过Bruker FM技术在远红外区域鉴别活性药物成分(API)的多晶型结构,FTIR技术具有不可估量的价值。
FT-IR技术在天文学及空间技术中发挥着关键作用,可用于测定太空任务采集的样本的分子组成,为了解外星物质提供宝贵见解。它还有助于表征天文学领域使用的材料和设备,推动技术进步,并加深对太空环境的理解。此外,FT-IR技术支持基质隔离和冰模拟实验,复制太空环境来研究分子形成、宇宙演化和生命起源。
随着6G和7G通信频率向远红外(FIR)波段扩展,FT-IR光谱分析技术成为通信技术研究的重要工具。verTera、闭循环Bolometer和FM技术等解决方案对于研究该领域的发射器和接收器至关重要。使用幅度调制步进(AM-Step scan)扫描方法,可进一步提高测量灵敏度,从而对下一代通信技术至关重要的特性进行精确可靠的表征。
全真空光学系统,提供优异的稳定性和灵敏度。
真空 ATR附件,可自由访问的样品台,操作便捷。
RockSolidTM 干涉仪,采用铝制光学组件,30° 入射角,提高了效率。
MultiTectTM检测器位,支持多达5个检测器;DigiTectTM位适配专用检测器。
充足的空间,可支持12-24小时保持时间的MCT检测器(可选配盖)。
双通道24位 ADC,全数字化信号处理。
轻松升级扩展至近红外、远红外和可见光/紫外谱区。
OPUS TOUCH 软件控制的触摸屏,可实现直观和先进的研发工作流程。
5 个光路输出端口和 2 个光路束输入端口,软件可控。
优异的快速扫描、慢速扫描、步进扫描和交叉时间分辨扫描模式,适用于时间分辨测量。
THz 扩展,采用独立光路。
兼容所有VERTEX和INVENIO模块和附件。
大容量样品仓,可容纳体积庞大的附件。
LED指示灯条,用于指示仪器状态。
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