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| 品牌 | HORIBA/堀场 | 测量时间 | <2min创新点SZ-100V2采用动态光散射测量颗粒粒径秒 |
|---|---|---|---|
| 分辨率 | 高分辨率微米 | 测量范围 | 0.3nm微米 |
| 重现性 | 良好 | 分散方式 | 湿法分散 |
| 价格区间 | 面议 | 仪器种类 | 动态光散射 |
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 化工 |
SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。
SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。
· 同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数
· 宽检测范围，宽浓度范围——样品浓度可达40%
· 自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定
· 软件操作简单功能较强，一键测量
· 双光路双角度粒径测量（90° 和173°）
· 采用微量样品池
粒径测量原理：动态光散射法（光子相关光谱法）
粒径测定范围：0.3nm ～10μm
粒径测量精度：±2%（NIST 可溯源标准粒子100nm）
Zeta 电位测量原理：激光多普勒电泳法
Zeta 电位测量范围：-500 mV ～ +500 mV
分子量测量原理：Debye plot
分子量测量范围：1000 ～ 2×107 Da
测量角度：90° 和173°（可自动或手动选择）
样品量：12μL ～ 1000μL
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