质谱分析过程中，当干扰离子质荷比（m/z）与待测离子重叠时就会产生质谱干扰，这是 ICP-MS分析的主要问题。幸运的是，现在对这些质谱干扰有更好的处理方法。扇形磁质谱的高分辨率可识别干扰离子和待测离子之间微小的质荷比差异，从而将二者进行物理分离。因此高分辨ICP-MS无需考虑样品基体效应，可对元素周期表中几乎所有元素进行精确的含量和同位素比值分析。高分辨ICP-MS的简便性可提供分析性能，同时保持方法开发的直接可靠性。这使得Element系列HR-ICPMS成为研究和计量机构以及分析实验室的分析测试平台。

分析物离子与干扰离子的准确分离是进行可靠精确的多元素含量和同位素比值分析的前提。高质量分辨率是目前广泛采用的质谱干扰分离手段。精密且稳定的高质量分辨率是Thermo Scientific Element XR 高分辨ICP-MS的独到之处。当分析物离子与基体导致的干扰离子可实现直观物理分离的情况下，分析人员无需事先了解样品的基体情况。

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简要描述：Thermo ScientificTM Element XRTM 电感耦合等离子体质谱仪具备去干扰能力，
从而确保高置信度的结果。针对痕量级别样品可获得超高灵敏度和可靠的多元素分析结
果，因此，无需复杂的样品前处理和方法开发过程。

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