更新时间:2026-01-28
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副标题: 高灵敏度、低干扰、稳定可靠的多元素痕量分析旗舰平台
发布日期: 2024年1月22日
作者: 森德仪器 应用技术部
仪器类别: 分析仪器 / 无机质谱分析设备
阅读时间: 约9分钟
关键词: 电感耦合等离子体质谱仪、ICP-MS、多元素分析、痕量检测、半导体检测、安捷伦、森德仪器
摘要
本文系统解析安捷伦(Agilent)ICP-MS 6880电感耦合等离子体质谱仪的全新技术架构与分析性能。作为针对最严苛应用需求设计的旗舰级产品,ICP-MS 6880通过革命性的第四代碰撞/反应池技术、高效耐用的进样系统以及智能化工作流,实现了从ppt(万亿分之一)级到百分含量级的宽动态范围、高精度定量分析。文章将深入探讨其如何应对高基质、复杂基体和超痕量元素分析中的挑战,重点介绍其在半导体、高纯材料、环境监测、生物医药及地质科学等前沿领域的核心应用与解决方案。
安捷伦ICP-MS 6880代表了当今单四极杆ICP-MS技术的水平。它专为满足半导体、材料、科研及法规遵从实验室对数据准确性、稳定性、通量和易用性的要求而设计。
核心设计目标:
消除干扰,保证数据纯度: 解决多原子离子、双电荷离子等质谱干扰,为复杂基体样品提供准确结果。
挑战更低检出限: 实现从Li到U的ppt甚至亚ppt级超痕量元素稳定检测。
耐受高基质,提升稳定性: 可长时间直接分析高盐、高有机物样品,大幅降低维护频率。
简化工作流程,提升效率: 集成智能系统监控与诊断、自动调谐和符合法规要求的数据管理。
这是ICP-MS 6880的“心脏",是其性能好的核心。
高速串联四极杆设计: 在超高速真空泵支持下,池内离子停留时间极短(<1 ms),消除传统碰撞池中可能发生的二次反应和记忆效应。
He模式(氦气碰撞模式): 利用高纯度氦气高效动能歧视(KED)干扰离子,是日常通用分析的标准模式,能消除90%以上的多原子离子干扰(如ArO⁺对Fe⁺的干扰),同时保持近乎100%的待测离子传输效率。
氢气模式(氢气反应模式): 对于在He模式下难以消除的特定干扰(如⁴⁰Ar³⁵Cl⁺对⁷⁵As⁺的干扰),氢气模式能通过化学反应选择性移除干扰离子,是应对半导体、环境等超痕量分析的利器。
单一气体模式,一劳永逸: 多数应用仅需He模式即可完成,简化方法开发,无需为不同元素频繁切换气体。
垂直炬管(One-piece Torch): 一体化垂直炬管设计,安装简便,位置高度重现,结合自激式固态射频发生器,提供异常稳定、能量集中的等离子体,轻松应对高基体有机溶剂。
高基体进样系统(可选): 包含高盐雾化器、帕尔贴控温雾化室和带有高基体接口锥,可将高TDS(总溶解固体)耐受能力提升至5%甚至更高。
3D全矩阵校准: 软件自动校正样品基体对所有被测元素的影响,即使分析基体未知或变化大的样品,也能获得准确结果。
集成智能系统诊断(ISD): 实时监控等离子体状态、锥孔洁净度、气体压力和流量等上百个参数,预测潜在问题并给出维护提示,变被动维修为主动预防。
自动调谐与质量校准: 内置全自动调谐程序,一键优化仪器至好性能状态,确保不同操作者、不同时间的数据一致性。
符合法规的数据完整性: 软件符合21 CFR Part 11等法规要求,具备完整的电子签名、审计追踪和权限管理功能。
ICP-MS 6880凭借其性能,在多个对痕量元素分析有严苛要求的领域成为行业优秀。
半导体与高纯材料
应用场景: 超纯水、高纯化学品(酸、溶剂)、晶圆表面沾污、靶材、光刻胶中数十种金属杂质的ppt级监控。
解决方案: 利用H₂反应模式、超高灵敏度及洁净的样品引入系统,实现Na、K、Fe、Ni、Cu、Zn、Ca等关键污损元素的超低检出限分析。
环境监测与食品安全
应用场景: 饮用水、土壤、食品(如大米、海产品)中As、Cd、Hg、Pb、Tl等有毒元素的精准测定。
解决方案: 通过ORS⁴池有效消除Cl、S、Ar等产生的多原子干扰(如⁴⁰Ar³⁵Cl对⁷⁵As的干扰),确保复杂基体样品中痕量有毒元素结果的可靠。
临床研究与生物医药
应用场景: 血液、尿液、组织、细胞中药代动力学、金属蛋白质组学、营养元素/毒性元素分析。
解决方案: 耐受高盐、高有机基质(直接稀释进样),结合碰撞反应池技术消除干扰,高通量分析生物样本中从Li到U的多种元素。
地质与核工业
应用场景: 稀土元素配分分析、同位素比值测定(如Sr、Pb)、核燃料及废物分析。
解决方案: 宽动态范围(>10⁹)确保主、次、痕量元素一次测定;高灵敏度与低背景为同位素比值提供精准数据基础。
材料与化学
应用场景: 催化剂、电池材料(正负极、电解液)、纳米材料、高分子材料中的元素分布与杂质分析。
解决方案: 结合激光剥蚀(LA)附件进行空间微区分析,或使用高基体系统直接分析高浓度样品。
案例:半导体厂超纯水中超痕量金属杂质监控
挑战: 需对UPW中近20种关键金属杂质进行长期、稳定的ppt级监控,数据可靠性要求高,仪器稳定性至关重要。
解决方案: 配置ICP-MS 6880,采用标配的He模式为主,结合专用高灵敏度接口锥。利用其极低的背景等效浓度(BEC)和长期稳定性,建立监控方法。
成效: 仪器连续运行数月,每日质控样品回收率持续稳定在90-110%之间,成功将Na、K、Ca、Fe等元素的检出限稳定控制在<5 ppt以下,满足好的半导体制造工艺对水质监控的严苛要求,并大幅减少了因仪器波动导致的复测次数。
系统准备: 开机预热,等离子体点火,仪器自动调谐至好状态。
方法建立: 选择分析元素、内标、定义标准曲线浓度,设置ORS⁴气体模式(通常为He模式)。
样品分析: 引入样品,仪器自动采集数据、扣除背景、计算浓度。
质量控制: 软件实时监控内标回收率、校准曲线和质控样(QC)数据,确保批次有效性。
数据报告: 自动生成包含所有原始数据、质控信息和审计追踪的报告。
每日: 检查并记录气体压力、冷却水流量,清洁样品引入系统(雾化器、雾化室、炬管)。
每周/根据样品量: 清洁采样锥和截取锥,检查并更换泵油(若为油泵)。
定期校准: 使用多元素调谐液进行质量轴和分辨率校准,使用性能验证溶液验证灵敏度与背景。
智能诊断: 依靠集成智能系统诊断(ISD)提示,进行预见性维护。
样品前处理: 确保样品消解、澄清,并控制总溶解固体量(TDS < 0.2%,使用高基体系统可更高)。
试剂纯度: 使用高纯酸、超纯水配制所有溶液,防止引入背景污染。
仪器环境: 实验室需洁净,温湿度稳定,供电稳定,并配备足够的排风。
干扰评估: 对于未知基体样品,应评估可能的质谱干扰,必要时使用反应模式或干扰方程校正。
该仪器的测试方法符合以下新国内外标准:
GB/T 39144-2020《纳米技术 多壁碳纳米管中金属杂质的测定 电感耦合等离子体质谱法》 (示例,展示其在纳米材料领域的应用标准)
HJ 766-2015《固体废物 金属元素的测定 电感耦合等离子体质谱法》 (现行有效的重要环境行业标准)
ISO 17294-2:2023《Water quality — Application of inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) — Part 2: Determination of selected elements including uranium isotopes》:水质ICP-MS分析的新国际标准。
USP <233>《Elemental Impurities – Procedures》:美国药典关于药品中元素杂质测定的法定程序,明确可采用ICP-MS。
ASTM D5673-21《Standard Test Method for Elements in Water by Inductively Coupled Plasma—Mass Spectrometry》:美国材料与试验协会关于ICP-MS测定水中元素的标准方法。
IEC 62321-3-1:2021《Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 3-1: Screening - Lead, mercury, cadmium, total chromium and total bromine by X-ray fluorescence spectrometry and inductively coupled plasma mass spectrometry》:电工产品有害物质筛选的国际标准,认可ICP-MS方法。
广东森德仪器有限公司是科学仪器领域专业的服务商与解决方案伙伴。我们不仅提供涵盖实验室通用仪器、分析测试设备、样品前处理系统等八大领域的高品质产品,更致力于为客户提供从实验室前期规划咨询、专业产品选型支持到售后全周期服务的整体解决方案。作为安捷伦等国际品牌的重要合作伙伴,我们的服务网络已广泛覆盖高等院校、科研单位、半导体、制药、环境监测、地质矿产等众多领域,为超过500家客户提供可靠、高效的分析技术支持。
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