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产品型号
AX8300Si -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2025-07-18 -
浏览次数
930
产品描述
半导体微聚焦X射线检测设备专为半导体封装与电子元器件设计的高精度无损检测设备，采用微米级聚焦X射线技术，实现芯片内部结构的二维/三维可视化检测，满足半导体行业对缺陷分析的严苛要求。
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流式动态图像法微粒分析仪随着科技不断进步，产品质量快速提升，各行各业对颗粒检测的要求也越来越高。而在实际生产过程中，往往颗粒呈现出不规则形状。颗粒的形貌会影响到产品的稳定性、溶解性、流动性等。因此，颗粒分析不仅要做粒度分布的检测，还需要得到颗粒的形貌这一关键信息。