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| 品牌 | HORIBA/堀场 | 应用领域 | 化工 |
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产品简介 高效型CL光谱仪 电子束入射到样品上，即可用光学方法接收并分析阴发光（CL），从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法，结合电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果，是纳米结构和体材料的*分析工具。 HCLUE是一款基于反射镜耦合优化的CL系统，结合了Jobin Yvon光谱技术制造的光谱仪模块，具有高灵敏度性能，适用于弱信号测量。可同时配备两个探测器，以获得更大光谱范围。 详情介绍 高效型CL光谱仪 仪器简介： 电子束入射到样品上，即可用光学方法接收并分析阴发光（CL），从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法，结合电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果，是纳米结构和体材料的*分析工具。 HCLUE是一款基于反射镜耦合优化的CL系统，结合了Jobin Yvon光谱技术制造的光谱仪模块，具有高灵敏度性能，适用于弱信号测量。可同时配备两个探测器，以获得更大光谱范围。 原理图 高效型CL光谱仪 主要特点： ● 反射镜直接耦合 ● 高灵敏度 ● 扫描成像、线扫描、点测量 ● 多种光栅选项 ● 多种焦长光谱仪选项：320mm-550mm ● 可配双探测器以获得zui大光谱范围：185nm-2500nm 重点应用领域： 阴发光光谱仪（CL）是用来表征材料中的缺陷，元素和杂质追踪的*分析工具，广泛适用于各个应用领域。 1、材料科学 ● 半导体和光电材料 ● 介电/陶瓷 ● 氧化物膜 ● 玻璃 2、矿物、地质 ● 碳酸岩 ● 晶体 ● 金刚石 ● 锆石、方解石、白云石 3、 生命科学 4、 * CL光谱及成像： ■CL光谱：使用CL测量光谱时，可在电镜下观察并选择待测样品区域。 ■快速CL成像：将扫描电子束与您的光谱仪同步，提供快速成像方案。使用HCLUE系统测量的GaN样品，测量中使用了超快SWIFTTM成像模式。 矿物样品中的白云石和磷酸钙。测量使用Flex-CLUE系统，配备iHR320光谱仪和开放电式CCD探测器。感谢Prof A. Jambon, UPMC France提供数据 左图：使用伪彩色显示350nm-450nm之间发射光谱区。figure 1, Hyperspectral CL mapping 中图：电镜下的样品图像。figure 2, SE image 右图：对应的光谱，其中不同色彩区域与左图中显示的颜色对应。figure 3, CL spectral (RGB) 上一篇： EMIA-Expert全新碳硫分析仪 下一篇： MicOS显微光谱测量系统
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