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| 品牌 | HORIBA/堀场 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 测量重复性 | 良好nm |
| 单次测量时间 | 约1mins | 光谱范围 | 250-2875cm-1nm |
| 应用领域 | 化工 |
产品简介 真空紫外椭偏仪专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高度准确性;*的超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。 详情介绍 真空紫外椭偏仪 专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高度准确性;*的超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。 真空紫外椭偏仪 产品特点 50KHz 高频PEM 相位调制技术 45 秒内完成充氮气 2 分钟内完成样品室抽真空 8 分钟内完成光谱全谱范围内测量 两种工作模式:氮气清洗结合抽 真空、连续氮气清洗 光谱范围:147nm~850nm;147nm~2100nm 重点应用领域 超薄膜 157nm 光刻新材料 有机材料、高分子材料 高k 材料:HfO2、Al2O3、TiO2、HfxAlyOz 抗反射涂层 半导体和介电材料电子跃迁 MgF2、CaF2、LaF3 上一篇: 定制化光谱系统 下一篇: SLFA-60便携式X射线荧光硫分析仪