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| 品牌 | HORIBA/堀场 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 测量重复性 | 良好nm |
| 单次测量时间 | 约1mins | 光谱范围 | 250-2875cm-1nm |
| 应用领域 | 化工 |
产品简介 产地类别 进口 价格区间 面议 应用领域 生物产业 一键式全自动快速椭偏仪 仪器简介： 新型的全自动薄膜测量分析工具，工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。 详情介绍 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微米。此外，还可以测试材料的反射率及透过率。 技术参数： * 光谱范围 : 190-885 nm （可扩展至 2100nm ） * 微光斑可选 50µm-100µm-1mm * 探测器：分别针对紫外，可见和近红外提供优化的 PMT 和 IGA 探测器 * 自动样品台尺寸：多种样品台可选 * 自动量角器：变角范围 40 ° - 90° ， 全自动调整，小步长 0.01° 主要特点： * 50KHz 高频 PEM 相调制技术，测量光路中无运动部件 * 具备超薄膜所需的测量精度，超厚膜所需的高光谱分辨率 * 具有毫秒级超快动态采集模式，可用于在线实时监测 * 自动平台样品扫描成像、变温台、电化学反应池、液体池、密封池等多种附件 * 配置灵活 上一篇： Auto SE一键式全自动快速椭偏仪 下一篇： XelPleX全自动表面等离子体共振成像仪
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