简要描述：泽攸科技推出的ZEM系列台式扫描电镜，融合了众多创新技术，不仅成像效果优秀，而且便于携带，能够满足多样化的应用需求。在国内外，ZEM系列以其优秀定位和多样化型号，已在成像清晰度、用户友好性以及系统整合性等方面达到了优良标准。

该系列产品以其高度的集成性和多样化的配置选项而著称，用户界面简洁，易于学习和操作，即使是非专业用户也能迅速掌握。配备的软件支持整个工作流程，从样品准备、参数调整到图像分析，

台式扫描电镜 ZEM20是泽攸科技ZEM系列中的一款高性价比台式扫描电子显微镜（SEM），采用预对中钨灯丝电子源与真空分隔技术，兼具高分辨率成像与快速操作体验。其紧凑设计、超大样品仓及智能化操作界面，适配材料科学、电子制造、生物医学等领域的微纳结构表征需求，尤其适合实验室与工业现场的高效检测场景。

核心特点

1. 优秀成像性能

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• 高分辨率：4nm@20kV，最大放大倍数36万倍，清晰呈现纳米级表面形貌（如金属颗粒、碳纳米管）。

• 双真空模式：标配高真空，可选配低真空（1-60Pa），支持非导电样品免喷金观察。

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3. 高效操作与快速换样

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• 真空分隔设计：电子枪与样品仓独立真空，换样时间＜1分钟（最快30秒），提升检测效率。

• 全鼠标操控：一体式聚光镜设计，无需手动调节光阑，简化操作流程。

1. 灵活扩展与智能监测

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• 多轴样品台：标配三轴移动，可选五轴台适配复杂样品定位与原位实验。

• 仓内摄像头：实时监测样品动态变化，支持原位加热、拉伸等拓展功能。

• 多探测器兼容：标配SE/BSE探测器，可选配EDS能谱分析，实现成分与形貌联动检测。

1. 工业级适配性

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• 超大样品仓：兼容块状、粉末及薄膜样品，支持大尺寸工业件（如电路板、涂层试片）直接观测。

• 减速模式选配：弱导电样品无需预处理，降低检测成本与时间。

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参数摘要

应用领域

• 材料科学：纳米材料形貌分析（如碳纳米管、金属颗粒）、涂层/镀层均匀性检测。

• 电子制造：PCB板缺陷检测、半导体器件微观结构观测。

• 生物医学：生物组织表面形貌研究、药物载体颗粒分析。

• 工业质检：合金相结构观察、复合材料界面表征。

• 科研教育：高校实验教学、跨学科微纳尺度研究。

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台式扫描电镜 优势总结

• 高效便捷：真空分隔技术+全鼠标操作，大幅提升检测效率。

• 灵活拓展：支持EDS、原位台等多模块扩展，满足进阶分析需求。

• 广泛适配：低真空模式与超大样品仓，覆盖导电/非导电、大尺寸样品检测。