简要描述：ZEM Ultra场发射台式扫描电镜

场发射、高分辨观测

ZEM Ultra台式扫描电子显微镜，继承了ZEM系列一贯的优良传统，不仅具有快速成像、全自动操作等特点，还具备出色的抗震性和稳定性。

ZEM Ultra 台式扫描电镜采用肖特基场发射电子源，三级独立真空设计，优于2.5nm的分辨率满足多数样品微纳结构表征需求。标配大束流及大样品仓，支持原位功能样品台及EDS/EBSD拓展。

场发射台式扫描电镜ZEM Ultra是一款高分辨率台式扫描电子显微镜（SEM），基于肖特基场发射电子源与三级独立真空系统设计，专为材料科学、纳米技术及工业检测领域的高精度微纳结构分析打造。其台式设计兼具紧凑性与稳定性，分辨率≤2.5nm，支持50万倍放大及多模态信号检测（SE/BSE/EDS/EBSD），适配从常规表征到原位动态研究的多样化需求。

核心特点

1. 高分辨成像性能

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• 场发射电子枪：提供高亮度、低能量扩散电子束，分辨率≤2.5nm，清晰呈现纳米级表面形貌与成分分布。

• 多级真空系统：独立真空设计，提升抗污染能力，保障长时间稳定观测。

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3. 全自动化与智能操作

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• 一键式自动功能：自动亮度/对比度调节、自动聚焦、大视野图像拼接，简化复杂操作流程。

• 光学导航与仓内相机：快速定位样品区域，减少人工调整时间。

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5. 灵活扩展与多功能适配

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• 大样品仓设计：内部尺寸176×185×125mm，兼容块体、粉末、薄膜等多样本类型。

• 原位功能拓展：支持电动多轴样品台（XYZ/XYT/五轴）、减速模式（0-10kV）及原位动态实验（如加热、拉伸）。

• 多探测器兼容：标配二次电子（SE）、背散射电子（BSE）探测器，可选配EDS能谱与EBSD衍射系统，实现成分与晶体结构分析。

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7. 工业级稳定性与效率

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• 抗震优化设计：适应实验室或工业现场环境，确保成像稳定性。

• 快速成像模式：512×512像素视频级实时观测，2048×2048像素高清拍摄，满足高效检测需求。

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应用领域

• 纳米材料：碳纳米管、金属颗粒、量子点形貌与尺寸分析。

• 能源材料：锂电池正负极（如磷酸铁锂）、催化剂、光伏材料微观结构表征。

• 半导体与电子：芯片缺陷检测、薄膜涂层均匀性评估。

• 地质与化工：矿物颗粒、高分子材料、多孔介质（如二氧化硅）表面研究。

参数摘要

场发射台式扫描电镜 优势总结

• 台式高效：场发射光源+全自动操作，兼顾高分辨率与便捷性。

• 多维分析：支持形貌、成分、晶体结构多模态数据联动。

• 扩展灵活：原位台与减速模式拓展动态实验能力，适配前沿科研需求。