简要描述：麦克奥迪金相正置显微镜PA53MET 是一款专为半导体及其他材料的检测与分析设计的高品质工具，尤其适用于质量控制和技术教育领域。其优秀的照明系统（包括明场、暗场、简易偏光及新型LED分段照明）结合倾斜入射照明技术，能有效识别平面和反射表面的划痕等缺陷，而无需调整样品位置。该设备具备优秀的成像能力，并能自动存储每个镜头的光照强度设置。

麦克奥迪金相正置显微镜PA53MET 是一款优秀正置金相显微镜，专为半导体、材料科学及工业质检领域设计，结合多模态照明技术与智能光学系统，适配高反射平面样品（如晶圆、抛光金属）的微观缺陷检测。其优秀的LED分段倾斜照明与编码物镜记忆功能，显著提升划痕、颗粒污染的检测效率，满足质量控制、技术教育及科研分析的精准需求。

核心特点

1. 多模态照明系统

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• 倾斜入射照明：LED分段光源可调角度，无需移动样品即可检测平面/反射表面划痕、微裂纹及颗粒污染。

• 四模式观察：支持明场、暗场、简易偏光及混合照明，适配半导体、金属、陶瓷等材料的多维度分析。

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3. 智能光学配置

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• 编码物镜转盘：自动记忆每颗物镜（5×-100×）的光强设置，切换倍率时无需重复调节，提升操作效率。

• Plan S-APO物镜：平场半复消色差设计（50×/100×），分辨率达亚微米级，消除色差与场曲。

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5. 高效检测与兼容性

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• 快速缺陷识别：倾斜照明结合高对比度成像，清晰呈现表面微缺陷（如晶圆划痕、涂层不均）。

• 教育适配性：可选配数码模块，搭建互动教学系统，助力材料学、电子工程实验课程。

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7. 人机交互优化

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• 屈光度可调目镜：UC-WF 10×/22目镜适配不同用户视力，减少视觉疲劳。

• 模块化扩展：支持数码相机、图像分析软件，实现数据量化与存档。

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应用领域

• 半导体工业：晶圆表面缺陷检测、封装工艺质量评估。

• 材料科学：金属晶粒度分析、陶瓷孔隙率测定、复合材料界面观测。

• 质量控制：精密零件抛光质量、高反射材料（如镜面、镀层）瑕疵筛查。

• 技术教育：高校材料显微结构教学、科研实验室表面形貌分析。

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技术参数

 麦克奥迪金相正置显微镜PA53MET  优势总结

• 精准高效：倾斜照明技术+高分辨率物镜，快速定位微米级缺陷。

• 智能便捷：编码物镜记忆功能，减少重复操作，提升检测一致性。

• 教学兼容：模块化设计适配数码互动，推动理论与实践的融合。

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售后服务

• 质保期：整机1年，核心光学组件3年。

• 货期：45天，支持定制化配置（如数码模块、特殊物镜）。

• 技术支持：免费安装培训、远程故障诊断。